ZEISS presenteert multisensor meetmachine en microscoop in één op Precisiebeurs
ZEISS lanceert de nieuwe ZEISS O-INSPECT duo officieel tijdens de Precisiebeurs op 13 en 14 november in de Brabanthallen in Den Bosch. Dit multifunctionele systeem combineert tactiele en optische metrologie met microscopie en bestrijkt zo twee belangrijke toepassingsgebieden in kwaliteitscontrole. Het is bovendien de grootste industriële microscoop van ZEISS ooit, waardoor het systeem geschikt is voor het meten en inspecteren van grote componenten zoals printplaten, brandstofcellen of batterijen.
Op de Precisiebeurs presenteert ZEISS de nieuwe ZEISS O-INSPECT duo.
Kwaliteitsfunctionarissen worden vaak geconfronteerd met de nodige meet-uitdagingen. Vooral als het gaat om het inspecteren van grote objecten. Microscopen zijn vaak niet groot genoeg om dergelijke in zijn geheel af te beelden. Snijden van componenten kost tijd, verspilt grondstoffen maar verhoogt bovenal het risico op meetfouten. Daarnaast is het aanschaffen van meerdere meetsystemen kostbaar en de beschikbare ruimte in laboratoria en of meetkamers vaak beperkt. Met de ZEISS O-INSPECT duo wordt kwaliteitsborging efficiënt, snel en nauwkeuring bediend.
Tactiel en optisch meten
De ZEISS O-INSPECT duo bevat zowel optische als tactiele meet-technologie. Met optische metingen kunnen objecten contactloos en met maximale precisie worden gemeten en geanalyseerd. De meettijd wordt hiermee aanzienlijk verkort. Dit dankzij de nieuw ontwikkelde, regelbare ringverlichting, een groot gezichtsveld met hoge beeldscherpte en uitstekende beeldgetrouwheid. Zelfs in de perifere gebieden. 3D tactiele metingen kunnen bijzonder snel en nauwkeurig worden uitgevoerd met de ZEISS VAST XXT sensor. Deze sensor neemt een groot aantal meetpunten in één enkele beweging op.
Microscopisch analyseren ín kleur
Zwart-witbeelden leveren doorgaans grote contrastverschillen op. De ZEISS O-INSPECT duo heeft een resolutie van 5 megapixels die zelfs de kleinste defecten zichtbaar en betrouwbaar in beeld brengt. Dit maakt nauwkeurige analyse mogelijk. Overigens is de ZEISS O-INSPECT duo ook geschikt voor geautomatiseerde inspectie van vele kleine onderdelen. Dit betekent dat de meet-microscoop maar één keer hoeft te worden geprogrammeerd waarna de inspectie vervolgens kan worden uitgevoerd zonder preparaten te wisselen.
Datamanagement
Kwaliteitsfunctionarissen hoeven overigens geen nieuwe software te leren, want de ZEISS O-INSPECT duo kan worden gebruikt met zowel de metrologie-software ZEISS Calypso als met de analyse-software ZEISS ZEN core. Ook communiceren beiden met ZEISS PiWeb voor een betrouwbare, duidelijke documentatie en visualisatie van alle meetgegevens. Ofwel, het volledige potentieel van ZEISS meetapparatuur wordt zo benut en workflows geoptimaliseerd.
